2025年5月26日至27日，山东大学材料科学与工程学院主办的“X射线薄膜测试分析技术暨日本理学X射线衍射应用研讨会”在千佛山校区举行。会议以“提升大型仪器科技支撑水平，推动分析测试技术高质量发展”为主题，依托材料学院高分辨率薄膜测试系统，聚焦X射线衍射（XRD）在薄膜领域的前沿技术与应用，吸引了材料学院、集成电路学院、新一代半导体集成攻关大平台、天津大学、济南大学、齐鲁工业大学、山钢集团、特变电工等校内外相关领域的近60位师生、科研人员及行业代表参会。

材料学院金属材料研究所所长肖桂勇在开幕式致辞中，对参会嘉宾表示热烈欢迎，强调会议是深化大型仪器共享、强化产学研合作的重要举措，将为材料科学研究提供精准测试支撑，助力学科交叉融合与技术创新。日本理学合作方北京嘉德利达科技有限公司总经理马可立先生致辞时表示，日本理学将以此次会议为契机，推动衍射仪技术与高校科研、产业需求深度对接，助力科研突破与行业升级。

会议特邀日本理学专家团队开展专题分享。严子耳博士、申志伟博士分别围绕织构分析、应力测试的核心原理与应用展开深度解析，结合实例展示XRD在材料表征中的关键作用；金廷恩博士通过设备操作培训、数据解析演示，指导参会者掌握SmartLab Studio II 等工具的实操技巧，并组织观摩XRD设备运行与测试流程。专家团队还与参会者就技术难点展开互动答疑，现场学术氛围浓厚。

本次研讨会通过“理论报告+实操培训+互动研讨”的多元模式，深化了参会者对XRD技术在薄膜分析应用中的理解，为高校、企业用户与仪器厂商搭建了技术交流、需求对接的平台。多位参会者表示，会议内容兼具前瞻性与实用性，实操环节为科研工作提供了直接技术参考。研讨会的成功举办将推动XRD技术在材料科学领域的创新应用，为仪器服务科研、开放共享奠定了良好的基础。

文/李焕彩 胡成 编辑/刘梦瑶 审核/毕见强